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chroma 58173-FC LED自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，主要特色：提供*電性測(cè)試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測(cè)試Chroma大面積光偵測(cè)器(量測(cè)角度可達(dá)148度)半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測(cè)設(shè)備特殊無(wú)鉆孔真空平臺(tái)設(shè)計(jì)特制Edge Sensor具有點(diǎn)測(cè)針壓穩(wěn)定

chroma 58154 ESD 測(cè)試系統(tǒng)，主要特色：提供兩種ESD 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) : Human body model and Machine model用戶自定項(xiàng)目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model

chroma 58182 Top-view 測(cè)試系統(tǒng)，主要特色：可量測(cè)白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均勻性搭載自動(dòng)影像辨識(shí)功能杰出之光學(xué)量測(cè)表現(xiàn)成功篩檢 ESD 損傷之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平臺(tái)

chroma 58183 LED Light Bar 電性測(cè)試系統(tǒng)，主要特色：微電流供應(yīng)與量測(cè)PC設(shè)計(jì)之架構(gòu)支持多任務(wù)量測(cè)，使用者可一次設(shè)定多組測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行量測(cè)多支持4組外加控制盒使用Chroma通用L/B接線治具，可更廣泛接取各種LED燈條進(jìn)行測(cè)試軟件具權(quán)限設(shè)定與管理之功能

chroma 7935 晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 主要特色：大可檢測(cè)8“ 晶圓 (檢測(cè)區(qū)域達(dá)10“ 范圍 )可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測(cè)項(xiàng)目上片后晶圓對(duì)位機(jī)制自動(dòng)尋邊功能可適用于不同形狀之晶圓瑕疵規(guī)格編輯器可讓使用者自行編輯檢測(cè)規(guī)格影像辨識(shí)成功率高達(dá) 98%可結(jié)合上游測(cè)試機(jī)晶粒資料，合并后上傳至下一道制程設(shè)備提供檢測(cè)報(bào)表編輯器，使用者可自行選擇適用資料并進(jìn)行分析適合LED、雷射二極體及影像感測(cè)器等產(chǎn)

chroma IS-SA 材料散射測(cè)量系統(tǒng)，主要特色：一次量測(cè)可快速取得所有角度的資料全面及自動(dòng)化的控制照明光源的角度廣泛的光源和樣品控制配置選項(xiàng)易於使用的控制和分析軟件數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出在光學(xué)設(shè)計(jì)和模擬工具軟件

chroma VisionCAL LED顯示屏校正系統(tǒng)，主要特色：Complete measurement system for LED video panel correctionProMetric Imaging Colorimeter measures the brightness and color of all LEDs in the screenVision

chroma 8200 開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 主要特色：測(cè)試程式編輯功能測(cè)試報(bào)告編輯功能使用者權(quán)限設(shè)定測(cè)試項(xiàng)目/程式控管功能人員進(jìn)出系統(tǒng)紀(jì)錄廣泛的模組化硬體以提供高準(zhǔn)確及重覆量測(cè)經(jīng)由系統(tǒng)預(yù)設(shè)測(cè)試項(xiàng)目，可提高測(cè)試生產(chǎn)率佳成本效益比圖形介面Windows 98/NT/2000以上的作業(yè)環(huán)境